Kyoto Semiconductor annonce le lancement de la photodiode de contrôle KP-M « KPDE008LS-A-RA-HQ »

KP-M de qualité plus élevée grâce à un processus d’inspection à plus haute température.

TOKYO--(BUSINESS WIRE)--Kyoto Semiconductor Co., Ltd. (PDG : Tsuneo Takahashi, siège social : Fushimi-ku, Kyoto), l’un des principaux fabricants de solutions de dispositifs optiques offrant des technologies de classe mondiale et de qualité japonaise, a annoncé le lancement de la nouvelle photodiode de contrôle KP-M, la KPDE008LS-A-RA-HQ.

Les photodiodes de contrôle KP-M sont utilisées pour évaluer la puissance de sortie laser des équipements de communications optiques.
Des appareils de qualité supérieure sont nécessaires à l’heure de l’expansion de la transformation numérique et des avancées des communications 5G. La « KPDE008LS-A-RA-HQ » a atteint une qualité supérieure via l’ajout du processus de probing à une température plus élevée.

1. Un nouveau wafer prober^*1 a été introduit pour inspecter les caractéristiques électriques de wafers de semi-conducteurs chauffés à des températures élevées. Ceci permet à l’inspection de tester la température (T=75 °C) proche de la valeur nominale maximale absolue indiquée en tant que température de fonctionnement du produit. L’inspection complète étant appliquée aux wafers grâce à ce prober, des produits de plus haute qualité peuvent être créés à des températures plus élevées.
2. L’inspection de l’échantillon est ensuite effectuée par wafer, et les produits échantillonnés sont envoyés au test de chauffe. Les échantillons sont chauffés jusqu’à des températures de 175 °C, et leurs performances sont inspectées. Si l’un des produits échantillonnés ne satisfait pas à la norme, aucun des produits sur le même wafer n’est expédié. Ce contrôle par wafer nous permet de proposer des produits de qualité supérieure.

La production de masse de la photodiode de contrôle KP-M « KPDE008LS-A-RA-HQ » devrait débuter le 1er décembre 2021.

Pour en savoir plus
https://www.kyosemi.co.jp/en/products/kpde008ls-a-ra-hq/

*1 Wafer prober : appareil qui inspecte les caractéristiques électriques des tranches de semi-conducteurs. Les caractéristiques électriques de la tranche de semi-conducteur sont mesurées en mettant l’aiguille du prober en contact avec les électrodes individuelles formées sur la tranche.

À propos de Kyoto Semiconductor
Kyoto Semiconductor a été créée en 1980 à Kyoto, en tant que fabricant spécialisé en semi-conducteurs optiques. Les semi-conducteurs fabriqués offrent des performances et une précision hors du commun, parfaites pour une utilisation en transmission optique. Ils sont fabriqués de bout en bout, pré et post processus inclus, avec la technologie de packaging unique de Kyoto Semiconductor, dans nos locaux au Japon, pour être expédiés à nos clients du monde entier. Kyoto Semiconductor est à la tête de l’industrie, grâce à des technologies de standard mondial pour les solutions de dispositifs optiques, basées sur la qualité japonaise et l’attention au détail au cours de la production.

Site Web de la Société : https://www.kyosemi.co.jp/

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