日本千葉--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)--半導體製造商ABLIC Inc.（以下簡稱ABLIC）成功推出一款由矽(*2)製成的UV光電二極體S-5420，該產品可檢測UV-A到UV-B範圍的紫外線(*3)。
S-5420透過計算高靈敏度和低敏感度光電二極體信號之間的差值來濾除可見光，無需濾波器即可進行紫外線檢測。該免濾波結構支援緊湊型應用，避免濾波器所誘導的衰減。其緊湊型透明樹脂封裝擴大了穿戴式裝置的設計靈活性。
該產品由ABLIC Inc.與日本東北大學工程研究所的Shigetoshi Sugawa及Rihito Kuroda教授領導的研究小組共同開發。
(*1) 根據我們截至2018年6月的研究。
(*2)
由矽製成的UV光電二極體：矽半導體用途極為廣泛，而矽感測器有助於推動電路整合化和高性能的未來發展。
(*3)
UV-A到UV-B範圍的紫外線：UV-A和UV-B的波長分別為315 - 400 nm和280-315 nm。
歸功於矽半導體的應用，S-5420可對UV-A到UV-B範圍的紫外線進行檢測。前者會造成皮膚出現色斑和皺紋，而後者則會引起曬傷。S-5420採用小型化透明樹脂封裝，可輕鬆用於各種穿戴式裝置，允許人們輕鬆測量紫外線強度。
其緊湊尺寸也保證了UV輻照度計和曝光表等工業設備設計的高度靈活性。
主要特點
1. 檢測從UV-A到UV-B範圍的紫外線。
2.
透過計算兩個光電二極體的差值，避免使用濾波器。
3. 緊湊型樹脂封裝
應用範例
- UV指數計
- UV光輻照裝置
[網站]
https://www.ablic.com/en/semicon/
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